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　　可靠性環(huán)境試驗(yàn)分類有哪些？局部可靠性專門用于把試樣放在自然或人工模擬的儲(chǔ)藏、運(yùn)輸與工作環(huán)境中，統(tǒng)稱為環(huán)境試驗(yàn)，是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境(振動(dòng)、沖擊、離心、溫度、熱沖擊、潮熱、鹽霧、低氣壓等)條件下的適應(yīng)能力，是評(píng)定產(chǎn)品可靠性的重要試驗(yàn)方法之一。

 

 

 

　　測(cè)試目的：檢驗(yàn)高溫貯藏對(duì)產(chǎn)品在沒(méi)有使用電應(yīng)力時(shí)的影響。有嚴(yán)重缺陷的產(chǎn)品處于非平衡態(tài)，是一種不穩(wěn)定態(tài)，從不平衡態(tài)向平衡態(tài)的轉(zhuǎn)變，就是誘發(fā)有嚴(yán)重缺陷產(chǎn)品失效的過(guò)程，也是促使產(chǎn)品從非穩(wěn)定態(tài)向穩(wěn)定態(tài)的過(guò)渡過(guò)程。

 

 

　　測(cè)試目的：考核產(chǎn)品對(duì)特定溫度變化率的耐受性和極端高溫、極端低溫環(huán)境的耐受性，主要針對(duì)產(chǎn)品熱機(jī)械性能設(shè)置的。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配不良時(shí)，或零部件內(nèi)部應(yīng)力過(guò)大時(shí)，溫度循環(huán)試驗(yàn)?zāi)苡|發(fā)產(chǎn)品因機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化而引起的失效。如漏氣、內(nèi)引線斷裂、芯片裂紋等。

 

 

　　測(cè)試目的：測(cè)試產(chǎn)品承受溫度的劇烈變化，即能承受大溫度變化的速度。試驗(yàn)?zāi)苡|發(fā)產(chǎn)品因機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化而引起的失效，熱沖擊試驗(yàn)和溫度循環(huán)試驗(yàn)的目的大致上相同，但熱沖擊試驗(yàn)的條件遠(yuǎn)比溫度循環(huán)試驗(yàn)要嚴(yán)格得多的熱容量，都是保證試驗(yàn)條件的重要原因。
 

 

　　測(cè)試目的：考核該產(chǎn)品在低氣壓下工作環(huán)境中的適應(yīng)性，例如高空工作環(huán)境。當(dāng)大氣壓力減小時(shí)，空氣或絕緣材料的絕緣強(qiáng)度將降低;容易產(chǎn)生電暈放電、介質(zhì)損耗增加、電離;氣壓減小使散熱條件變差，會(huì)使元器件溫度上升。

 

　　由于上述原因，試樣品在低氣壓條件下無(wú)法正常工作，還有時(shí)候造成永久性損傷。

 

 

　　試驗(yàn)?zāi)康模河檬┘蛹铀賾?yīng)力的方法評(píng)價(jià)濕熱條件下微電路抗衰變的能力，是為典型的熱帶氣候環(huán)境所設(shè)計(jì)的。在潮濕與炎熱條件下，微電路衰變的主要機(jī)理是由化學(xué)作用所引起的腐蝕與由水汽的浸入、凝露、結(jié)冰引起微裂縫增大的物理過(guò)程。

 

　　試驗(yàn)還考察在潮濕和炎熱條件下構(gòu)成微電路材料發(fā)生或加劇電解的可能性，電解會(huì)使絕緣材料電阻宰發(fā)生變化，使抗介質(zhì)擊穿的能力變?nèi)酢?/div>

　　6、鹽霧試驗(yàn)