中科檢測 > 檢測標準 > 物理性能類 > 環(huán)境試驗檢測標準 > GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫

GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫

發(fā)布時間:2024-01-12 15:48:58
熱度:0次
關鍵字:GB/T 2423.1-2001 ,電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗,試驗方法試驗A:低溫
檢測咨詢:在線咨詢
本標準規(guī)定了試驗樣品應在低溫下放置足夠長時間達到溫度穩(wěn)定。

GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫 標準介紹

GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫 本標準規(guī)定了試驗樣品應在低溫下放置足夠長時間達到溫度穩(wěn)定。

GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫 基本信息

標準號:GB/T 2423.1-2001

發(fā)布日期:2001-07-12

實施日期:2001-12-01

廢止日期:暫無

頒發(fā)部門:中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會

GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫 適用范圍

本標準適用于提供一種標準的試驗程序,用以確定經(jīng)受溫度突變不致產(chǎn)生損傷作用的非散熱電工、電子產(chǎn)品(包括元件、設備及其他產(chǎn)品)低溫下存和使用的適應性。

GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫 檢測須知

1、檢測周期:一般實驗需要5-10個工作日,可加急,具體檢測周期可咨詢工程師;

2、檢測流程:了解待檢測項目,確定檢測項目 → 根據(jù)檢測項目及檢測需求進行報價 → 簽訂合同及保密協(xié)議,開始檢測 → 5-10個工作日可出具檢測報告 → 出具檢測報告,進行后期服務。


GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫 服務優(yōu)勢

中科檢測是國科控股旗下的第三方檢測機構,成立于2011年,擁有10000余平方米專業(yè)檢測實驗室,配備各領域檢測專用高精端進口儀器萬余合/套,在環(huán)境模擬試驗檢測領域已有大量的技術經(jīng)驗,為全球的生產(chǎn)企業(yè)和零售商提供更為本土化、更為高效便捷的檢測認證服務。

GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫 檢測機構

中科檢測是一家綜合性的第三方檢測機構,是專業(yè)的可靠性物理測試與環(huán)境試驗檢測機構,可以對各類電工電子產(chǎn)品進行環(huán)境模擬測試,根據(jù)國家標準出具CMA/CNAS權威檢測認證報告。

GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫 相關資訊

查看更多 >
檢測服務
檢測標簽
檢測專題
檢測標準
檢測文章