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　　高溫檢測(cè)方法標(biāo)準(zhǔn)有哪些？哪個(gè)機(jī)構(gòu)可以提供高溫壽命試驗(yàn)服務(wù)？有關(guān)高溫試驗(yàn)內(nèi)容，下面中科檢測(cè)小編帶大家來(lái)了解。

 

 

　　高溫測(cè)試：是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。

 

　　高溫測(cè)試檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2，IEC 60068-2-2，IEIA 364， MIL-STD-810F

 

 

　　高溫壽命試驗(yàn)為利用溫度及電壓加速的方法,藉短時(shí)間的實(shí)驗(yàn)來(lái)評(píng)估IC產(chǎn)品的長(zhǎng)時(shí)間操作壽命。

 

　　一般常見(jiàn)的壽命實(shí)驗(yàn)方法有BI(Burn-in) / EFR(Early Failure Rate) / HTOL(High Temperature Operating Life) / TDDB(Time dependent Dielectric Breakdown)，對(duì)于不同的產(chǎn)品類別也有相對(duì)應(yīng)的測(cè)試方法及條件，如HTGB(High Temperature Gate Bias) / HTRG(High Temperature Reverse Bias) / BLT(Bias Life Test) / Intermittent Operation Life等。
 

 

 

　　1、GJB 150.3A-2009?《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法?第3部分：高溫試驗(yàn)》

 

　　2、GJB 360B-2009?《電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法108?高溫壽命試驗(yàn)》

 

　　3、GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫》

 

　　4、GJB 367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范?A02高溫試驗(yàn)》

 

　　5、GJB 3493-1998?《軍用物資運(yùn)輸條件》

 

　　6、GJB 150.3-1986?《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》

 

　　7、GJB 4.2-1983?《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)高溫試驗(yàn)》

 

　　8、MIL-STD-810F環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)試驗(yàn)[S]?美國(guó)國(guó)防部，2000

 

　　9、IEC60068-2-2：2007?電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：高溫

 

 

　　中科檢測(cè)是國(guó)科控股旗下第三方檢驗(yàn)檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)，通過(guò)了檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)資質(zhì)認(rèn)定(CMA)、中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可(CNAS)。

 

　　中科檢測(cè)能提供可靠性測(cè)試技術(shù)服務(wù)，對(duì)于溫度濕度測(cè)試可以依據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，并提供可靠的檢測(cè)數(shù)據(jù)。幫助廣大客戶把控產(chǎn)品質(zhì)量，減低生產(chǎn)成本、提高生產(chǎn)效率。

 

　　高溫試驗(yàn)報(bào)告費(fèi)用及周期，可以咨詢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)-中科檢測(cè)，可以嚴(yán)格按照測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求，出具CMA、CNAS報(bào)告。