高溫老化測(cè)試是電子產(chǎn)品制造過(guò)程中不可或缺的一環(huán)，主要目的是通過(guò)模擬高溫、惡劣的工作環(huán)境，檢驗(yàn)產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能遇到的各種問(wèn)題。通過(guò)這種測(cè)試，制造商可以預(yù)測(cè)產(chǎn)品的使用壽命，發(fā)現(xiàn)并解決潛在的缺陷和隱患。
高溫老化測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)通常包括環(huán)境溫度、溫度升降速率和老化時(shí)間三個(gè)主要因素。同時(shí)，環(huán)境濕度和產(chǎn)品的散熱效果也是測(cè)試中需要特別注意的因素。
高溫老化測(cè)試是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品（如：計(jì)算機(jī)整機(jī)，車(chē)用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器等）模擬高溫、惡劣環(huán)境的可靠性測(cè)試，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要手段、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程。

1. 計(jì)算機(jī)類(lèi)：電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等
2. 電子通信類(lèi)：手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等。
3. 電器類(lèi)：家電、燈具、變電器等各類(lèi)家電電器設(shè)備；
4. 其他：包裝箱、運(yùn)輸設(shè)備等。

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