光伏組件pid效應(yīng)是長期外電壓下電池功率衰減現(xiàn)象，由系統(tǒng)高電壓和封裝工藝不絕緣導(dǎo)致。光伏pid是如何形成的呢？為了確保光伏組件能夠在長期使用中保持高效穩(wěn)定的性能，進行pid測試非常必要。
光伏組件pid測試介紹
光伏組件PID測試是指在高溫高濕環(huán)境下（85℃和85%RH）給組件內(nèi)部帶電體與邊框之間施加等于組件最大系統(tǒng)額定電壓（±1000V或±1500V）的電壓偏差。
當(dāng)內(nèi)部光伏電路相對于地面為負偏壓時，框架和電池之間的電壓可導(dǎo)致玻璃中的鈉離子向電池表面漂移，電池表面通常具有氮化硅（SiN）抗反射涂層。
如果這個涂層上的縫隙足夠大，允許鈉離子進入電池或電荷流向玻璃，形成的漏電流就會通過邊框或安裝支架流入大地，從而出現(xiàn)PID效應(yīng)。
漏電流將使電池片的載流子及耗盡層狀態(tài)發(fā)生變化、電路中的接觸電阻和封裝材料受到電化學(xué)腐蝕，出現(xiàn)電池片功率衰減、串聯(lián)電阻增大、透光率降低、脫層等現(xiàn)象影響組件發(fā)電量及壽命。
光伏pid形成機理
PID效應(yīng)現(xiàn)象最容易在潮濕的條件下發(fā)生，且其活躍程度與潮濕程度相關(guān)；同時組件表面被導(dǎo)電性、酸性、堿性以及帶有離子的物體的污染程度，也與上述衰減現(xiàn)象發(fā)生有關(guān)。
在實際的應(yīng)用場合，晶體硅光伏組件的PID現(xiàn)象已經(jīng)被觀察到，基于其電池結(jié)構(gòu)和其他構(gòu)成組件的材料及設(shè)計型式的不同，PID現(xiàn)象可能是在其電路與金屬接地邊框存在電壓偏置的條件下發(fā)生。
光伏組件PID測試步驟
1.將光伏組件暴露在高溫高濕環(huán)境下，如85℃、85%RH，持續(xù)48小時。
2.在測試前后測量光伏組件的電流、電壓和功率，記錄基準(zhǔn)值。
3.在測試結(jié)束后，再次測量光伏組件的電流、電壓和功率，與基準(zhǔn)值進行比較。
4.如果光伏組件的功率損失超過5%，則認為該組件存在PID效應(yīng)。
5.進行PID修復(fù)措施，如使用PID修復(fù)設(shè)備或進行電場調(diào)整等。
6.再次測試修復(fù)后的光伏組件，確保PID效應(yīng)得到有效修復(fù)。
7.記錄測試結(jié)果和修復(fù)措施，以便后續(xù)分析和改進。
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