檢測對象
檢測項(xiàng)目/參數(shù)
檢測方法/標(biāo)準(zhǔn)
操作
電工電子產(chǎn)品
溫度/低氣壓試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)方法和導(dǎo)則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗(yàn)GB/T 2423.27-2020
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電工電子產(chǎn)品
溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)GB/T 2423.34-2012
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電工電子產(chǎn)品
溫度變化
環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化GB/T 2423.22-2012
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電工電子產(chǎn)品
鹽霧
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka:鹽霧GB/T 2423.17-2008
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電工電子產(chǎn)品
自由跌落-方法1
環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec：粗率操作造成的沖擊（主要用于設(shè)備型樣品）GB/T 2423.7-2018
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電工電子產(chǎn)品
自由跌落-方法2
環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec：粗率操作造成的沖擊（主要用于設(shè)備型樣品）GB/T 2423.7-2018
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電工電子產(chǎn)品
高溫
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫GB/T 2423.2-2008
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電工電子產(chǎn)品
鹽霧試驗(yàn)
人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)GB/T 10125-2021
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電工電子產(chǎn)品
第一位特征數(shù)字所表示的防止固體異物進(jìn)入的試驗(yàn)
外殼防護(hù)等級(IP代碼)GB/T 4208-2017
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電工電子產(chǎn)品
第二位特征數(shù)字所表示的防止水進(jìn)入的試驗(yàn)
外殼防護(hù)等級(IP代碼)GB/T 4208-2017
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電工電子產(chǎn)品
接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)GB/T 2423.20-2014
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電工電子產(chǎn)品
水試驗(yàn)方法
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則GB/T 2423.38-2008
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電工電子產(chǎn)品
沙塵試驗(yàn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn)GB/T 2423.37-2006
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