中科檢測 > 檢測能力
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電工電子產(chǎn)品
溫度/低氣壓試驗
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗方法和導則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗GB/T 2423.27-2020 條款4.4.2
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電工電子產(chǎn)品
溫度/低氣壓試驗
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗方法和導則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗GB/T 2423.27-2020 條款4.4.2
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電工電子產(chǎn)品
溫度/濕度組合循環(huán)試驗
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗GB/T 2423.34-2012
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電工電子產(chǎn)品
溫度變化
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化GB/T 2423.22-2012
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電工電子產(chǎn)品
鹽霧
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ka:鹽霧GB/T 2423.17-2008
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電工電子產(chǎn)品
鹽霧，交變(氯化鈉溶液)
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kb:鹽霧，交變(氯化鈉溶液)GB/T 2423.18-2021
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電工電子產(chǎn)品
碰撞
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導則:碰撞GB/T 2423.6-1995
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電工電子產(chǎn)品
自由跌落
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落GB/T 2423.8-1995
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電工電子產(chǎn)品
長霉
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J及導則:長霉GB/T 2423.16-2008
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電工電子產(chǎn)品
高濃度二氧化硫試驗
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗GB/T 2423.33-2021
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電工電子產(chǎn)品
高溫
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫GB/T 2423.2-2008
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電工電子產(chǎn)品
交變濕熱(12h + 12h循環(huán))
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))GB/T 2423.4-2008
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電工電子產(chǎn)品
低氣壓
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓GB/T 2423.21-2008
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電工電子產(chǎn)品
低溫
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫GB/T 2423.1-2008
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電工電子產(chǎn)品
沖擊
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導則:沖擊GB/T 2423.5-2019
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電工電子產(chǎn)品
寬帶隨機振動
環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fh：寬帶隨機振動和導則GB/T 2423.56-2018
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電工電子產(chǎn)品
恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗GB/T 2423.50-2012
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電工電子產(chǎn)品
恒定濕熱試驗
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗GB/T 2423.3-2016
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電工電子產(chǎn)品
振動(正弦)
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc:振動(正弦)GB/T 2423.10-2019
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電工電子產(chǎn)品
流動混合氣體腐蝕試驗
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ke:流動混合氣體腐蝕試驗GB/T 2423.51-2020
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